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Industrial IoT im Fokus

VIP 2015 stellt Systeme für das Industrial IoT von morgen vor

Vom 21. bis 23.Oktober 2015 veranstaltete National Instruments zum 20. Mal den Technologie- und Anwenderkongress 'Virtuelle Instrumente in der Praxis'. Die Veranstalter konnten mit rund 700 Gäste im Veranstaltungsforum Fürstenfeldbruck eine Rekordbeteiligung vermelden. Schwerpunktthemen waren dieses Jahr u.a. das IoT (Internet of Things) im kommerziellen (CIoT) und im industriellen (IIoT) Umfeld, sowie Big Analog Data.

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Im Rahmen des 20. VIP Kongresses präsentierten vor mehr als 700 Teilnehmern über 40 Partner und Systemintegratoren ihre Lösungen und Produkte.

20 Jahre VIP-Kongress Zwei Fragen an Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director, NI Wie kam es zu der Idee, den VIP-Kongress zu veranstalten?

Rahman Jamal: Wir standen immer schon in gutem Kontakt zu unseren Anwendern. Für diesen Austausch fehlte jedoch ein regelmäßiges Format. In den USA etablierte sich die NIWeek und außerhalb der USA die NIDays, allerdings mit hohem NI- und wenig Anwender-Content. Dieser Ansatz war mir nicht ausgeglichen genug. Außerdem fehlte mir aufgrund des 'NI' im Veranstaltungsnamen die Neutralität. Ziel für mich war eine Plattform, die einen praxisnahen Austausch zwischen den Anwendern untereinander und mit uns als Hersteller ermöglicht. So haben wir den Kongress 1996 ins Leben gerufen und in Anspielung auf das LabView-Konzept den Namen 'VIP - Virtuelle Instrumente in der Praxis' gegeben. Das Call-for-Papers für den ersten Kongress habe ich selbst erstellt und per Post an Anwender geschickt, die ich persönlich kannte - alles händisch, ohne Datenbank und ohne Mailings. So sind wir auf 37 Einreichungen für den Kongress gekommen, aus denen wir den ersten Begleitband erstellt haben - für rund 230 Kongressteilnehmer. Mittlerweile haben sich die Call-for-Papers-Einsendungen mehr als verdoppelt, sodass wir für die mehr als 700 Besucher ein zukunftweisendes Programm zusammenstellen können.

National Instruments Germany GmbH

Dieser Artikel erschien in SPS-MAGAZIN SPSS 2015 - 19.11.15.
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