Elektromagnetische Verträglichkeit

Framegrabber für Highspeed-GigE-Kameras

13.03.24  –  Bildverarbeitung
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Die GigE Vision-kompatible Bilderfassungskarte Xtium 2-XGV PX8 von Teledyne Dalsa verfügt über eine hardwaregestützte Logik zum erneuten Senden von Paketen, die die Zuverlässigkeit der Bildübertragung verbessert und gleichzeitig den CPU-Overhead reduziert. mehr...

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Komponenten für die Automatisierung

Hybride M12-SPE-Stecker

11.04.24  –  Automatisierung
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TE entwickelt SPE-M12-Hybridschnittstellen, sowohl mit SPE- und Leistungskontakten als auch mit Schraubverriegelung und Push-Pull-Schnellverriegelung, die dem Standard EC63171-7 entsprechen. mehr...

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PXI-Modul für digitalen Test von Halbleiterbauelementen

Bild: National Instruments Germany GmbHBild: National Instruments Germany GmbH

Das Modul Digital Pattern Instrument NI PXIe-6570 mit Digital Pattern Editor von National Instruments bietet Herstellern von RFICs, PMICs, MEMS-Bauelementen und Mixed-Signal-ICs eine Alternative zu den geschlossenen Architekturen herkömmlicher automatisierter Halbleiterprüfsysteme.

Bild: National Instruments Germany GmbHBild: National Instruments Germany GmbH
Die Prüfanforderungen neuer Halbleiterbauelemente übersteigen häufig die Fähigkeiten klassischer automatisierter Prüfsysteme. Aus diesem Grund hat das Unternehmen das auf der offenen PXI-Plattform basierende Semiconductor Test System (STS) entwickelt und nun um einen leistungsstarken und benutzerfreundlichen Digital Pattern Editor und Debugger ergänzt, mit dem Anwender die Möglichkeit haben, ihre Prüfkosten zu senken und gleichzeitig den Prüfdurchsatz für RFICs und Analog-ICs zu steigern. Das Modul bietet die nötigen Funktionen, um die ICs für Wireless- und IoT-Anwendungen zu einem effizienten Preis-Leistungs-Verhältnis pro Pin zu testen. Es ermöglicht die Ausführung von Testpatterns mit 100 MVektoren pro Sekunde und bietet unabhängige Source- und Capture-Engines sowie parametrische Funktionen für Spannung und Strom auf bis zu 256 synchronisierten digitalen Pins in einem einzelnen Subsystem.

National Instruments Germany GmbH

Dieser Artikel erschien in Automation Product Newsletter 34 2016 - 13.09.16.
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