Unsere Partner
Embedded-Systeme
Anzeige

Vereinfachte Fehlersuche bei NXPs neuen S32K1 Automotive-Mikrocontrollern

Die Darstellung von Applikationsvariablen, der uneingeschränkte Zugang zu den Core- und Peripheral-Registern sowie die grafische Darstellung von Systemwerten in Diagrammen erlauben es dem Anwender, komfortabel und effizient das Laufzeitverhalten seiner Applikation zu beurteilen. Noch umfangreichere Möglichkeiten der Systembeobachtung und -analyse ergeben sich speziell bei den S32K14x-Bausteinen durch Nutzung der integrierten ARM CoreSight Trace-Funktionen. Für eine möglichst effiziente Test-Automatisierung und die Kopplung von Testtools Dritter ist die UDE 4.8.3 mit einer leistungsstarken, auf dem Microsoft Common Object Model (COM) basierenden Automatisierungsschnittstelle ausgestattet. Dieses Interface ermöglicht Entwicklern darüber hinaus auch ein umfangreiches Scripting der UDE 4.8.3, ohne dabei auf eine spezifische oder gar proprietäre Skriptsprache beschränkt zu sein. Ein kombinierter Target-Adapter für die Zugangsgeräte der Universal Access Device- (UAD-) Familie von PLS stellt eine sichere und schnelle Kommunikation zwischen der UDE 4.8.3 und den Mikrocontrollern der S32K1-Familie via JTAG oder über die ARM-spezifische SDW-Schnittstelle sicher. Für anspruchsvolle Umgebungsbedingungen ist dieser Adapter optional auch mit zusätzlicher galvanischer Isolation erhältlich.

PLS Programmierbare Logik & Systeme GmbH www.pls-mc.com

pls Programmierbare Logik & Systeme GmbH

Dieser Artikel erschien in 16 2017 - 10.07.17.
Für weitere Artikel besuchen Sie www.embedded-design.net

Relevante Produkte