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Elektronikfertigung

IT-Portfolio für Nutzentests

Baugruppen im Nutzen zu bestücken, hat sich in der Elektronikfertigung in den letzten Jahren durchgesetzt. Galten Nutzentests lange als schwierig, ist auch dieses Verfahren gefragter, seitdem man das Trennen besser im Griff hat. Allerdings kämpfen Elektronikfertiger bei Nutzentests noch mit zahlreichen Herausforderungen, die sich durch verschiedene Softwares deutlich erleichtern lassen.

Bild: Digitaltest GmbHBild: Digitaltest GmbH
Paralleltests mit der Lambda edition.

Wer sich mit dem Thema Nutzentests befasst, kennt die lange Liste der zugehörigen Herausforderungen: schwierige und zeitaufwendige Nutzendefinition, zunehmende Komplexität beim Adapterbau samt komplizierter Adapterverdrahtung und aufwendiges Testprogramm-Debugging. Zudem können Mischnutzen und die zugehörigen Tests meist nur manuell und mit viel Aufwand erzeugt werden. Oft wird der Nutzentest in der Fertigung zum Flaschenhals, der die gesamte Fertigungsgeschwindigkeit einschränkt. Offensichtlich defekte Einzelschaltungen lassen sich schwer bis gar nicht vom Test ausschließen. Hinzu kommt hoher Ausschuss, da sich Fehler oft nur dem ganzen Nutzen, nicht aber der einzelnen Baugruppe zuordnen lassen. Einzelschaltungen zu testen - zum Beispiel bei Rückläufern aus dem Feld - ist eine weitere Schwierigkeit. HInzu kommen fehlende Möglichkeiten zur Traceability. Verschiedene IT-Tools helfen jedoch mittlerweile auch beim Test im Nutzen.

Digitaltest GmbH

Dieser Artikel erschien in IT&Production April 2019 - 08.04.19.
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