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Danish Networking

Rückblick auf die EMVA Business Conference 2019

Mitte Mai fand die 17. EMVA Business Conference mit knapp 120 Teilnehmern in Kopenhagen statt. Dabei wurden zahlreiche Vorträge und B2B-Meetings abgehalten, sowie der EMVA Young Professional Award verliehen.

Bild: EMVA European Machine Vision AssociationBild: EMVA European Machine Vision Association

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Nach der Begrüßung stellte Dr. Bernd Liepert (euRobotics) in seiner Keynote die Möglichkeiten der Robotik - vor allem in Verbindung mit Bildverarbeitung - vor.

Bild: EMVA European Machine Vision AssociationBild: EMVA European Machine Vision Association

Danach gab Henrik Ilsvy (SVS-Vistek) einen Überblick über die dänische Machine Vision Branche. Anschließend fanden vier technische Vorträge zu den Themen Line Confocal Imaging (FocalSpec), Hyper-/Multispectral Imaging (JAI), Angular Illumination (Carl Zeiss Optotechnik) und schnelle Vision-Prozessoren (NovuMind) statt. Beendet wurde der Tag mit der Podiumsdiskussion ´How will Embedded Vision impact our future?´ mit Teilnehmern von Active Silicon, Framos, MVTec, Stemmer Imaging und Surface Inspection, sowie einem Ausblick des EMVA über die zukünftigen Aufgaben des Verbandes. Den nächsten Tag eröffnete Dr. Klaus-Henning Noffz mit der Vorstellung von OPC Vision. Danach präsentierte der chinesische Bildverarbeitungsverband CMVU aktuelle Zahlen zum Visionmarkt China. Tue Moerck (IHFood) zeigte zahlreiche Applikationsbeispiele aus der Food-Industrie und zum Abschluss erklärte Bestseller-Autor Meik Wiking (The Hapiness Research Institute) den Zuhörern ´Hygge - The danish way of being happy´. Werner Feith, Gründer der Sensor to Image GmbH, wurde als neuer EMVA Standard Manager vorgestellt. Er wird künftig die europäischen Standardisierungsaktivitäten weltweit vorantreiben, den Entwicklungsprozess von Visionstandards koordinieren sowie neue Handlungsfelder für Standardisierung identifizieren. Der EMVA Young Professional Award 2019 geht an Dr. Johannes Meyer (ITK Engineering) für seine Arbeit ´Light Field Methods for the Visual Inspection of Transparent Objects´. Ein neu entwickeltes Sensorsystem, der Laser Deflection Scanner, ermöglicht die Erfassung hochaufgelöster Lichtfelder von transparenten Prüflingen in Echtzeit. Am letzten Konferenztag wurde auch der Ort der nächsten Business Conference bekannt gegeben: Diese findet vom 25. bis 27. Juni 2020 in Sofia (Bulgarien) statt.

EMVA European Machine Vision Association

Dieser Artikel erschien in inVISION 3 2019 - 07.06.19.
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