Optische Messtechnik (nicht Bildverarbeitung)

Performance-Steigerung für Laserscanner

13.03.24  –  Bildverarbeitung
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Dank verbesserter Algorithmen und Komponenten hat sich die Datenerfassung/ -ausgabe der ScanControl 3.000 Laserscanner von Micro-Epsilon auf bis zu 10Mio. Messpunkte pro Sekunde (bisher 7,5Mio Punkte/s) erhöht; bei der Profilberechnung und Auswertegeschwindigkeit sogar bis zu 60%. mehr...

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Schnellere KIVision Lösungen

13.03.24  –  Bildverarbeitung
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Die neue Version der Bildverarbeitungs-Software Sapera von Teledyne Dalsa enthält verbesserte Versionen des grafischen KI-Trainingstools Astrocyte 1.50 sowie der Bildverarbeitungs- und KI-Bibliotheken Sapera Processing 9.50. mehr...

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Embedded Vision Europe Konferenz 2019

Für die zweite Embedded Vision Europe vom 24. bis 25. Oktober im ICS Stuttgart steht das Programm mit internationalen Experten und spiegelt die Bandbreite von Embedded Vision wider. Unter den Rednern sind unter anderem Intel und Nvidia.

Bild: EMVA European Machine Vision AssociationBild: EMVA European Machine Vision Association
Eine Reihe von Topreferenten wird auf der Embedded Vision Europe 2019 sprechen. Teil der Konferenz ist auch eine Table Top Ausstellung, auf der sich unter anderem Active Silicon, Allied Vision, Baumer, Gidel, IDS, Phytec, The Imaging Source und Vision Com
Bild: EMVA European Machine Vision AssociationBild: EMVA European Machine Vision Association

Dies beginnt beim Keynote-Redner David Austin (Intel Corporation). Seine Arbeit konzentriert sich auf KI-basierte Lösungen für den industriellen IoT-Markt und er thematisiert in seiner Keynote 'Flexible and Practical AI for Industrial Deployment'.

Bild: EMVA European Machine Vision AssociationBild: EMVA European Machine Vision Association
Eine Reihe von Topreferenten wird auf der Embedded Vision Europe 2019 sprechen. Teil der Konferenz ist auch eine Table Top Ausstellung, auf der sich unter anderem Active Silicon, Allied Vision, Baumer, Gidel, IDS, Phytec, The Imaging Source und Vision Com
Weitere Redner der Konferenz sind unter anderem Neil Trevitt (Nvidia/ Khronos), der über 'APIs for Accelerating Vision and Inferencing: an Industry Overview of Options and Trade-offs' spricht sowie Andrea Dunbar (CSEM), die über 'Autonomous data-logger with ULP imager' spricht sowie Bram Senave (Easics) mit einem Vortrag zu 'Embedded deep learning in PCB inspection'. 'Processor Architectures for Machine Learning' ist der Titel des Vortrags von Jagan Ayyaswami (Micron Technology). Jonathan Hou (Pleora) blickt mit seiner Präsentation 'Embedded Learning and the Evolution of Machine Vision' auf die rasante Entwicklung der Bildverarbeitung der letzten Jahre. Michael Engel (Vision Components) stellt 'MIPI Cameras: New Standard for Embedded Vision' vor und EMVA Präsident Jochem Herrmann betont in seiner Präsentation die Bedeutung von Standardisierung auch für den Bereich Embedded Vision. 'How to set up an embedded system for industrial embedded vision - Requirements, components, and solutions' wird Gion-Pitschen Gross (Allied Vision) vorstellen und Pierre Gutierrez (Scortex) spricht über 'The challenges of deploying Deep Learning for visual quality inspection'. Über die bestehenden Deep Learning-Modelle hinaus schaut Dr. Vassilis Tsagaris (IRIDA Labs) und spricht über 'An holistic embedded vision approach: looking beyond the deep learning models'.

EMVA European Machine Vision Association

Dieser Artikel erschien in inVISION 4 2019 - 09.09.19.
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