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Quadlinear in Farbe

Wafer-/PCB-Inspektion mit hochauflösenden Farbzeilenkameras

Halbleitergeometrien und Leiterplattenkomponenten werden immer kleiner. Gleichzeitig steigen die Ansprüche an die Qualitätsprüfung. Die Farbzeilenkamera allPixa evo von Chromasens ist dank ihres hochauflösenden, quadlinearen Vollfarben-CMOS-Zeilensensors für diese Anwendungsfelder prädestiniert.

Bild: Chromasens GmbHBild: Chromasens GmbH

Die Anforderungen an eine optische Inspektion in der Halbleiterfertigung liegen aufgrund der kleinen Strukturen inzwischen im Bereich von wenigen Mikrometern.

Bild: ©gorodenkoff/©c1a1p1c1o1m1/istockphoto.com / Chromasens GmbH

Die Detektion von Defekten und Verschmutzungen in diesen Dimensionen stellt höchste Ansprüche an die Inspektionssysteme. Extrem hochauflösende Farbzeilenkameras mit CMOS-Technologie können diese kleinen Strukturen mit hoher Geschwindigkeit für bildanalytische Auswertungen erfassen. Auch vor den Leiterplatten (PCB) macht die Miniaturisierung nicht halt. Sie durchlaufen mit hohem Durchsatz eine 100% Kontrolle. Auch hier bieten hochauflösende Farbzeilenkameras ideale Lösungsoptionen.

Chromasens GmbH

Dieser Artikel erschien in inVISION 1 (März) 2021 - 17.03.21.
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