Individuelle Oberflächeninspektion
Bild: Euresys SAMit EasySpotDetector, einer neuen spezialisierten Bibliothek für Oberflächeninspektionen in der Open eVision Bibliothek, unterstützt Euresys Integratoren von Bildverarbeitungssystemen. Das Tool ermöglicht die Erkennung geringfügiger Defekte und Kontamination, selbst in verrauschten Bildern unter Berücksichtigung der inhärenten und akzeptablen Variabilität des Materials. Anwender können die Empfindlichkeit für spezifische Defekte individuell definieren.
Bild: Euresys SAMit EasySpotDetector, einer neuen spezialisierten Bibliothek für Oberflächeninspektionen in der Open eVision Bibliothek, unterstützt Euresys Integratoren von Bildverarbeitungssystemen. Das Tool ermöglicht die Erkennung geringfügiger Defekte und Kontamination, selbst in verrauschten Bildern unter Berücksichtigung der inhärenten und akzeptablen Variabilität des Materials. Anwender können die Empfindlichkeit für spezifische Defekte individuell definieren.
Euresys SA
Dieser Artikel erschien in inVISION 2 (April) 2025 - 15.04.25.Für weitere Artikel besuchen Sie www.invision-news.de
