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NI senkt mit PXI-basierten Testsystemen Kosten für automatisierte Halbleiterprüfsysteme

Bild: National Instruments Germany GmbHBild: National Instruments Germany GmbH

Ein offener, plattformbasierter Ansatz kombiniert modulare Messtechnik und Systemdesignsoftware für RF- und Mixed-Signal-Produktionstests. National Instruments hat die Produktreihe NI Semiconductor Test Systems (STS) vorgestellt. Es handelt sich dabei um PXI-basierte automatisierte Testsysteme, welche die Prüfkosten für RF- und Mixed-Signal-Geräte senken, indem sie die Integration von PXI-Modulen von NI und anderen Herstellern in Prüfumgebungen der Halbleiterproduktion ermöglichen. Pionieranwender, die ihre konventionellen automatisierten Halbleiterprüfsysteme bereits durch STS ersetzt haben, profitieren von geringeren Produktionskosten sowie einem höheren Durchsatz und können für Charakterisierung und Produktion dieselben Hard- und Softwarewerkzeuge einsetzen. So wird weniger Zeit für die Korrelation von Daten sowie zur anschließenden Markteinführung benötigt. Die offene, modulare Architektur eines STS gewährt Anwendern Zugang zu den neuesten PXI-Messgeräten, den Anwender klassischer automatisierter Testsysteme aufgrund ihrer geschlossenen Architektur nicht erhalten. Insbesondere bei RF- und Mixed-Signal-Tests macht dies jedoch einen großen Unterschied, da die Anforderungen der aktuellen Halbleitertechnologien häufig die Testabdeckung klassischer automatisierter Testsysteme übersteigen. Durch die Testmanagementsoftware TestStand und die Systemdesignsoftware LabVIEW sind STS mit umfangreichen Funktionen für Halbleiterproduktionsumgebungen ausgestattet. Dazu zählen eine benutzerdefinierbare Bedienoberfläche, die Integration von Handler/Prober, geräteorientierte Programmierung mit Pin-Kanal-Zuordnung, Berichterstellung im standardisierten Testdatenformat und integrierter standortübergreifender Support. Diese Funktionen ermöglichen es, Testprogramme schnell zu entwickeln, auf Fehler zu untersuchen und einzusetzen, was wiederum in einer beschleunigten Markteinführung resultiert. Zusätzlich können STS direkt in eine Prüfzelle in der Halbleiterproduktion integriert werden. Dies ist dank des Prüfkopfs im Zero-Footprint-Design, Standardschnittstellen und Docking-Mechanismen möglich. Die Produktreihe STS umfasst drei unterschiedliche Modelle, T1, T2 und T4, die jeweils mit einem, zwei oder vier PXI-Chassis ausgerüstet werden können. Aufgrund der unterschiedlichen Größen sowie der einheitlichen Software, Messtechnik und des Verbindungsmechanismus in allen STS-Modellen können Anwender für zahlreiche Anforderungen an Pinanzahl und Flächendichte das optimale Modell finden. Dank ihrer Skalierbarkeit kommen STS von der Charakterisierung bis hin zur Produktion sinnvoll zum Einsatz und sparen dabei nicht nur Kosten, sondern senken auch die Markteinführungszeiten.  

National Instruments Germany GmbH

Dieser Artikel erschien in Automation Product Newsletter 19a 2014 - 07.10.14.
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