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2. Konferenz ´Optical Characterization of Materials´

Bild: Fraunhofer IOSBBild: Fraunhofer IOSB

Vom 17. bis 19. März findet am Fraunhofer IOSB die 2. Fachkonferenz ´Optical Characterization of Materials´ (OCM) statt. Zeitgleich findet auch das SpectroNet Collaboration-Forum am Fraunhofer Institut statt.

Fraunhofer-Institut für Optronik, Systemtechnik

Dieser Artikel erschien in inVision Newsletter 3 2015 - 18.02.15.
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