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Xenon-Sapphire - High-End Linescan

Jos. Schneider Optische Werke GmbH

Details

Schneider-Kreuznach präsentierte auf der VISION 2012 acht Xenon- SAPPHIRE High-Performance-Objektive für 12k- und 16k-Zeilenkameras mit einer Zeilenlänge von bis zu 62,4 mm. Die Objektivserie ist für höchste Anforderungen bei Web- und Oberflächeninspektionen entwickelt und erste Wahl für FPD- und PCB-Inspektionssysteme. Sie bietet eine optimale Transmission durch eine Breitbandbeschichtung im Bereich von 400 bis 1000 nm und verfügt über ausgezeichnete optische und mechanische Eigenschaften. Eine Auflösung von mehr als 100 lp/mm ermöglicht den Einsatz der Objektive für Sensoren mit 3,5 ?m Pixelgröße.

Produktbeschreibung

Produktname
Xenon Sapphire 4.5/95
Objektivtyp
Standard-Objektiv
Bezeichnung der Modellreihe
Xenon-Sapphire Series

Einsatzgebiete

Qualitätssicherungsanwendungen
Andere
High-resolution 16k line scan applications, Flat panel inspection, 12k TDI inspection

Objektivaufbau

Brennweite des vorgestellten Einzelobjektivs
95.0 mm
Blendenzahl: F-Wert des Objektivs
4.5 – 8
Messabstand / Arbeitsabstand
1552 mm
Optimale Wellenlänge
400 bis 1,000 nm (VIS + NIR)
Besonderheiten des Objektivs
For 16k line scan cameras (57.3 mm length/ pixel sizes 3.5 μm and 82 mm length/ pixel size approximately 5 μm)
Objektivanschlüsse
Schneider V-mount 70;
Filtergewinde
M52 x 0.75
Geeignete Kameras
Zeilenkameras;

Firma

Jos. Schneider Optische Werke GmbH

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