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German Conference on Pattern Recognition 2018

Bild: DAGMBild: DAGM

Die Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung blickt auf eine erfolgreiche 'German Conference on Pattern Recognition' zurück. Die bereits 40. Auflage der Konferenz fand vom 09. bis 12. Oktober an der Universität Stuttgart statt. Mehr als 200 Teilnehmer tauschten sich über die wichtigsten Neuerungen aus der Bildverarbeitung und Mustererkennung aus. Dabei standen insbesondere die Trendthemen künstliche Intelligenz und maschinelles Lernen im Fokus.

MVTec Software GmbH

Dieser Artikel erschien in 21 2018 - 31.10.18.
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